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電路板，LED，磁性材料環(huán)境試驗(yàn)解決方案/成功案例

日期：2017-04-17瀏覽：5282次

電路板，LED，磁性材料環(huán)境試驗(yàn)解決方案/成功案例

近年來國內(nèi)外電子整機(jī)的失效統(tǒng)計(jì)顯示，元器件造成的失效占50%的比例。多年來一直居高不下，引起人們普遍關(guān)注。元器件本身及使用的可靠性提高對于整機(jī)可靠性的提高具有關(guān)鍵的作用。

行業(yè)	檢測對象	用途	工藝	解決方案
電子部品	印制電路板	生產(chǎn)	絕緣層涂料硬化干燥	高溫試驗(yàn)箱
			層間接合硬化	真空高溫試驗(yàn)箱
			脫泡	250℃真空高溫箱
		評價(jià)	熱循環(huán)加速試驗(yàn)	冷熱沖擊試驗(yàn)箱＋導(dǎo)通電阻評估系統(tǒng)
			溫濕度偏壓電壓加速試驗(yàn)	高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱(J系列）＋絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)
			高溫高壓材料耐濕試驗(yàn)	高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱(J系列）＋絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)
	LED	生產(chǎn)/檢查	脫泡試驗(yàn)	真空高溫試驗(yàn)箱
		評價(jià)	高溫試驗(yàn)	高溫試驗(yàn)箱
			低溫放置試驗(yàn)	中型高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱
			溫度循環(huán)試驗(yàn)	高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱(J系列）
	磁性材料	生產(chǎn)	干燥	高溫試驗(yàn)箱
		評價(jià)		高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱(J系列）
		評價(jià)		高壓加速老化試驗(yàn)箱

信息通訊

信息通訊設(shè)備使用范圍從室內(nèi)到野外，從熱帶到寒帶，不同地方經(jīng)受這多樣的環(huán)境條件。同時(shí)伴隨市場的小型化、便攜性要求的日益提高，裝置密度也不斷增加。因此，元器件選擇、系統(tǒng)設(shè)計(jì)、產(chǎn)品定型、制造工藝及失效分析都對可靠性提出了嚴(yán)格的要求。

行業(yè)	檢測對象	用途	工藝	解決方案
IT通訊	傳輸交換設(shè)備	檢查	冷熱沖擊試驗(yàn)	冷熱沖擊試驗(yàn)箱
			高溫放置試驗(yàn)	高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱(J系列）
			老化試驗(yàn)	高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱(J系列）
		評價(jià)	熱循環(huán)試驗(yàn)	高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱(J系列）
			lcordia試驗(yàn)	高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱(J系列）
				冷熱沖擊試驗(yàn)箱
			絕緣評價(jià)	絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)
			導(dǎo)通評價(jià)	導(dǎo)通電阻評估系統(tǒng)
	移動(dòng)通信終端	檢查	成品動(dòng)作試驗(yàn)	高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱(J系列）
		檢查		高低溫(濕度）試驗(yàn)室
		評價(jià)	溫濕度試驗(yàn)	小型環(huán)境試驗(yàn)箱
				高壓加速老化試驗(yàn)箱
			絕緣評價(jià)	絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)
			導(dǎo)通評價(jià)	導(dǎo)通電阻評估系統(tǒng)
	計(jì)算機(jī)	檢查	冷熱沖擊試驗(yàn)	冷熱沖擊試驗(yàn)箱
			高溫放置試驗(yàn)	高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱(J系列）
			老化試驗(yàn)	高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱(J系列）
		評價(jià)	成品或零部件的綜合評價(jià)	溫度、濕度、振動(dòng)三綜合試驗(yàn)箱
			絕緣評價(jià)	絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)
			導(dǎo)通評價(jià)	導(dǎo)通電阻評估系統(tǒng)
	計(jì)算機(jī)外存儲(chǔ)設(shè)備	檢查	元器件篩選	高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱(J系列）
		檢查	成品老化處理	高低溫(濕度）試驗(yàn)室
		評價(jià)	保證溫濕度范圍內(nèi)動(dòng)作試驗(yàn)	高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱(J系列）
				冷熱沖擊試驗(yàn)箱
			絕緣評價(jià)	絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)
			導(dǎo)通評價(jià)	導(dǎo)通電阻評估系統(tǒng)